The Scios 2 LoVac dual-beam focused ion beam (FIB) scanning electron microscope (SEM)


0 USD
Scios 2 LoVac — это двухлучевой (dual-beam) сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM), разработанный компанией Thermo Fisher Scientific. Система сочетает в себе высококачественное сканирование с помощью электронного пучка (SEM) и прецизионную обработку/визуализацию с помощью фокусированного ионного пучка (FIB).

Основные технические характеристики Scios 2 LoVac

Параметр

Значение

Модель

Scios 2 LoVac

Тип

Двухлучевой FIB-SEM (фокусированный ионный пучок + сканирующий электронный микроскоп)

Тип электронной колонны

Высоковакуумная с полевой эмиссией (Schottky FEG)

Разрешение SEM

До 0.8 нм при 30 кэВ (в высоком вакууме)

Тип ионной колонны

Жидкометаллический источник ионов (LMIS), Ga⁺

Разрешение FIB

До 3 нм при 30 кэВ

Напряжение ускоряющего пучка (SEM)

200 В – 30 кэВ

Напряжение ускоряющего пучка (FIB)

500 В – 30 кэВ

LoVac режим (низковакуумный)

Да — возможность работы в режиме низкого вакуума (до 130 Па) для анализа непроводящих и гидратированных образцов без напыления

Максимальный ток ионного пучка

До 65 нА

Система газового напуска

До 4 каналов для осаждения металлов (Pt, W) и избирательного травления

Система навигации

Оптическая, рентгеновская (EDS) и электронная навигация

Детекторы

ETD (SE), TLD (SE/BSE), ICE (BSE), STEM-детектор, EDS (опционально), EBSD (опционально)

Размер образца

До 100 мм в диаметре, высота до 50 мм

Вакуумная система

Турбомолекулярные насосы, форвакуумный насос

Управление

Промышленный ПК с программным обеспечением Thermo Fisher для автоматизации процессов (микроскопия, FIB-обработка, 3D-томография)

Габариты (Ш × Г × В)

Примерно 1.2 × 1.0 × 1.8 м

Масса

Примерно 800–1000 кг

Напряжение питания

200–240 В, 1 фаза, 50/60 Гц

Потребляемая мощность

Примерно 2–3 кВт

                                                                      

Типовые применения

Анализ отказов (failure analysis)

Исследование дефектов в полупроводниковых устройствах, металлизации, контактных структурах

Подготовка ламелей для TEM

Прецизионное вырезание тонких образцов (ламелей) для просвечивающей электронной микроскопии

3D-томография

Последовательное травление ионным пучком и визуализация для реконструкции 3D-структуры образца

Материаловедение

Изучение металлов, сплавов, керамики, полимеров, композитов

Нано-литография и прототипирование

Создание наноструктур с помощью ионного пучка

Биология и биоматериалы

Исследование биологических образцов в низковакуумном режиме без предварительной подготовки

 

Производство: США
Copyright MAXXmarketing GmbH
JoomShopping Download & Support