Основные технические характеристики Triase+ W
|
Параметр |
Значение |
|
Модель |
Triase+ W |
|
Тип |
Плазменное травление (Reactive Ion Etching, RIE) |
|
Диаметр обрабатываемых пластин |
150–200 мм (6–8 дюймов) |
|
Типы травления |
Вольфрам (W), вольфрамовые сплавы, металлы (Ti, TiN, Al) |
|
Источник плазмы |
Индуктивно-связанная плазма (ICP) с независимым управлением плотностью плазмы и энергией ионов |
|
Частота ВЧ-источника |
13.56 МГц (для создания плазмы) и низкочастотный источник (для смещения) |
|
ВЧ-мощность |
До 2000 Вт (источник плазмы), до 1000 Вт (смещение) |
|
Температура пластины |
Регулируемая, от –20 °C до +80 °C (с использованием гелия для охлаждения обратной стороны) |
|
Газовая система |
Многоканальная подача газов (до 6–8 линий) с масс-расходомерами (MFC) |
|
Типовые газы |
SF₆, CF₄, Cl₂, BCl₃, HBr, Ar, O₂, N₂ |
|
Вакуумная система |
Турбомолекулярный и механический насосы |
|
Предельный вакуум |
~10⁻⁵–10⁻⁶ Па |
|
Система загрузки |
Кассетная загрузка (автоматическая) или ручная загрузка (в зависимости от конфигурации) |
|
Управление |
Промышленный ПК с программным обеспечением Hitachi для контроля процесса, автоматической настройки и статистического контроля |
|
Габариты (Ш × Г × В) |
Примерно 1.2 × 1.2 × 2.0 м |
|
Масса |
Примерно 800–1000 кг |
|
Напряжение питания |
200–480 В, 3 фазы, 50/60 Гц |
|
Потребляемая мощность |
Примерно 3–5 кВт |
Ключевые особенности
- Травление вольфрамовых контактов и переходных отверстий
Формирование вольфрамовых контактов (W-plugs) для соединения транзисторов с первым слоем металлизации
- Формирование линий слов (wordline) в памяти
Травление вольфрамовых слоев для создания линий слов в DRAM и NAND Flash
- Травление металлических затворов
Формирование металлических затворов в транзисторах с высокой диэлектрической проницаемостью (high-κ metal gate)
- Травление барьерных слоев
Травление слоев Ti, TiN, используемых в качестве барьеров и адгезионных слоев
Производство: Япония
JoomShopping Download & Support