Спектроскопический эллипсометр SE-2000


Производитель: Semilab, Венгрия

0 USD

Технические характеристики

SE-2000 обладает самым широким спектральным диапазоном, доступным на одном приборе. Диапазон - от глубокого УФ (190 нм) до среднего ИК (25 мкм). Инструмент уникально предлагается с дополнительной эллипсометрической головкой FTIR на том же угломере с видимыми рычагами. Он может быть настроен на режим быстрого обнаружения с помощью спектрографа и матрицы детекторов, на режим высокого разрешения с помощью спектрометра и одноточечных детекторов или на оба режима вместе на одном инструменте. SE-2000 включает в себя новую интеллектуальную электронику Semilab со сменными компонентами и работает с программным обеспечением для управления и анализа нового поколения (SAM / SEA). Системой можно управлять с ПК или ноутбука через локальную сеть или с помощью нового интерфейса сенсорной панели.

Режимы измерения:

  • Спектроскопическая эллипсометрия для определения толщины тонкой пленки и оптических функций, включая сложные многослойные структуры
  • Обобщенная эллипсометрия для анизотропных материалов
  • Просвечивающая эллипсометрия для прозрачных подложек
  • Зависимость рассеяния от длины волны и угла падения
  • Матрица Мюллера (11 или 16 элементов), уникально предлагаемая в сочетании со скаттерометрией для трехмерных анизотропных материалов
  • Матрица Джонса для простых анизотропных материалов
  • Коэффициент отражения и пропускания в зависимости от длины волны и угла падения
  • Поляриметрия
  • Порометрия: Измерения размера пор и пористости в тонких пленках
  • Режим измерения на месте для контроля в режиме реального времени в процессе нанесения или травления

Опции:

  • Этап отображения (X, Y, Z, вращение), ручной или автоматический
  • Микрошарик (стандартный и сверхмалый - настройка подлежит обсуждению)
  • Ячейки для окружающей среды: криостат, жидкостная ячейка, ячейки для охлаждения и нагрева образцов, ячейка QCM
  • Камера атмосферной порозиметрии
  • Камера визуализации
  • Спектроскопический рефлектометр
  • Определение расширенного спектрального диапазона
  • Возможность интеграции других полулабораторных метрологий (4pp, Eddy и др.)

Модель

Стоимость

SE-2000

По запросу

Copyright MAXXmarketing GmbH
JoomShopping Download & Support