Технические характеристики
- Автоматизированная
- система контроля температуры кварцевых кристаллов на основе программного обеспечения
- Можно устанавливать в штабель до 2 паллет с дисками
- Доступны нестандартные размеры SMD
- Платформа для паллет с дисками может быть легко интегрирована в специализированную машину для автоматической загрузки / выгрузки SMD-устройств
- Позволяет проводить более 75 различных тестов
- Параметры и характеристики соответствия кривой
- проверяются на соответствие легко определяемым пределам контроля качества
- Кристаллы с различными частотами могут быть протестированы за один температурный цикл.
- Все данные публикуются в базе данных Microsoft AccessTM и могут быть экспортированы в
- Microsoft Excel TM для пользовательского анализа данных
- Распечатки создаются с помощью Crystal Reports®
- Возможна конфигурация с двумя камерами
Технические параметры
|
Параметр |
250B-1 |
250C |
|
Диапазон частот |
15 кГц – 220 МГц |
15 кГц – 500 МГц |
|
Корреляция частоты |
± 1 ppm (типовое для серии) |
± 1 ppm (типовое для серии) |
|
Кристаллическая мощность |
1 нВт – 1000 мкВт (1 МГц – 50 МГц) |
1 нВт – 1000 мкВт (1 МГц – 50 МГц) |
|
1 нВт – 500 мкВт (>50 МГц – 200 МГц) |
1 нВт – 500 мкВт (>50 МГц – 200 МГц) |
|
|
Температурная стабильность |
± 0.1° C |
± 0.1° C |
- Сетевой анализатор S&A 250B-1 или 250C
- Коммутационный контроллер S&A 2451 (требуется только в двухкамерной конфигурации)
- Камера для измерения температуры S&A 4220 (LCO2, LN2 или механическое охлаждение)
- Тестовая головка Pi-сети по стандарту IEC-444
- Системное программное обеспечение на базе Windows®
- Принтер (опционально)
- Требования к компьютеру:Минимум 500 МГц Pentium III один полноценный слот PCI с питанием +3,3 В и 5 В, Windows 98
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Двухдисковая система контроля температуры поддонов SMD W-2200 |
По запросу |
JoomShopping Download & Support