Основные технические характеристики Applied Centura Sprint Tungsten CVD
|
Параметр |
Значение |
|
Модель |
Centura Sprint Tungsten CVD |
|
Тип |
Химическое осаждение из газовой фазы (CVD) |
|
Платформа |
Centura (высокопроизводительная кластерная платформа Applied Materials) |
|
Диаметр обрабатываемых пластин |
200–300 мм (8–12 дюймов) |
|
Прекурсоры |
WF₆ (гексафторид вольфрама), H₂, SiH₄ (силан), B₂H₆ (диборан) для зародышевого слоя |
|
Осаждаемые материалы |
Вольфрам (W), зародышевый слой вольфрама (W nucleation), легированный вольфрам |
|
Температура осаждения |
300–450 °C (в зависимости от рецепта) |
|
Давление в камере |
10–100 Торр |
|
Скорость осаждения |
До 3000–4000 Å/мин (для объемного слоя) |
|
Равномерность толщины |
≤ ±1% (по пластине) |
|
Заполнение структур (gap fill) |
Оптимизировано для структур с высоким соотношением сторон (≥ 10:1) и узких зазоров (≤ 20 нм) |
|
Система загрузки |
Автоматический манипулятор в составе кластерной платформы Centura |
|
Управление |
Промышленный ПК с программным обеспечением Applied Materials (APC, E3) для контроля процесса, автоматической настройки и статистического контроля |
|
Вакуумная система |
Турбомолекулярный и механический насосы, опционально криогенные насосы для улучшенного вакуума |
|
Габариты (Ш × Г × В) |
В составе платформы Centura (типовые размеры кластера) |
|
Масса |
Зависит от конфигурации кластера |
|
Напряжение питания |
200–480 В, 3 фазы, 50/60 Гц |
|
Потребляемая мощность |
Примерно 8–12 кВт (модуль осаждения) |
Ключевые особенности
- Заполнение контактов и переходных отверстий (W-plugs)
Вольфрам используется для создания электрических соединений между транзисторами и первым слоем металлизации
- Формирование линий слов (wordline) в памяти
В технологиях DRAM и NAND Flash вольфрам применяется для формирования линий слов благодаря его низкому удельному сопротивлению и хорошей заполняющей способности
- Металлизация в логических устройствах
В некоторых технологических узлах вольфрам используется для формирования локальных межсоединений и контактов
- Формирование затворов (gate) в некоторых типах устройств
Вольфрам может использоваться как материал затвора в транзисторах с высокой диэлектрической проницаемостью (high-κ metal gate)
Производство: США
JoomShopping Download & Support