Технические характеристики
Это полностью автоматическое оборудование предназначено для электрического анализа и тестирования параметров полупроводниковых дискретных устройств GPP. В комплекте с измерительным прибором оно способно автоматически выполнять функции тестирования электрических параметров чипов.
- Допустимый диаметр пластины: 3″, 4″, 5″;
- Максимальный ход: 170 мм × 240 мм;
- Точность позиционирования: ≤ ±0,030 мм / 150 мм;
- Разрешение шага: 0,001 мм;
- Ход по оси Z: 10 мм;
- Повторяемость позиционирования по оси Z: ≤ ±0,003 мм;
- Разрешение по оси Z: 0,001 мм;
- Автоматический диапазон регулировки по оси θ: ±10°;
- Разрешение по оси θ: 0,0013°.
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Автоматизированный зондовый тестовый стенд TZ-501A |
По запросу |
JoomShopping Download & Support