Takumi

Для поточного и конечного параметрического тестирования

Обзор продукта

Карты-пробники Takumi™ для встроенного и конечного параметрического тестирования позволяют производителям микросхем раньше получать информацию о возможностях для проверки своих разработок, подтверждения эффективности процесса и достижения более высоких показателей выхода годных изделий. Высокая точность контактов позволяет производителям использовать тестовые площадки меньшего размера и более узкие линии надписей на своих технологических пластинах.

Карты-пробники Takumi для встроенного и конечного параметрического тестирования позволяют производителям микросхем раньше выявлять возможности для проверки своих разработок, контроля производительности процесса и повышения выхода годной продукции. Высокая точность контактов позволяет производителям использовать тестовые площадки меньшего размера и более узкие линии надписей на своих технологических пластинах.

Основные характеристики

• Шаг контактных площадок 40 мкм, что позволяет производить больше кристаллов на пластине
• Превосходная производительность CRES для надежных параметрических измерений
• Запатентованный 3D MEMS-контакт MicroSpring для более чем 1 миллиона касаний