Прибор для контроля качества пластин WT-1200A

Технические характеристики

Квазистационарный µ-PCD с контролем качества затухания (QSS µ-PCD QD). Контроль качества пластин и солнечных элементов на разных этапах производства.

Измеряемые параметры:

• Определение срока службы в установившемся режиме и уровня впрыска без учета параметров
• Скорость поверхностной рекомбинации (Смакс)
• Подразумеваемый Лос
• Ток насыщения эмиттера (J0)

Особенности и системные спецификации:

• Полностью автоматическое управление и оценка данных
• Измерение выбирается в любом положении пластины
• Измерение моно- и многокристаллических материалов
• Запатентованная опция химической пассивации поверхности, доступная для пластин
• Срок службы пластин может быть измерен после каждого технологического этапа изготовления солнечных элементов:
  • Поступающая в виде нарезанной пластины
  • Рассеянные пластины (с фосфорным стеклом или без него)
  • Пластины с нитридным покрытием
  • Металлизированные пластины
  • Готовые солнечные элементы
• Дополнительные параметры (Smax, Voc, J0) могут быть измерены после этапов пассивации поверхности