Атомно-силовой микроскоп AFM-2000

Технические характеристики

Атомно-силовой микроскоп - AFM-2000 - это автоматизированная высокопроизводительная платформа для сканирующей зондовой микроскопии для больших образцов.

Его рентгеновские преобразователи большого радиуса действия позволяют исследовать образцы и фрагменты толщиной до 300 мм в любых положениях. Полностью программируемое позиционирование образца обеспечивает автономность АСМ-измерения в нескольких положениях образца с автоматическим анализом изображений и автоматической генерацией отчета. Сочетание с высококачественной оптикой позволяет автоматически выбирать места для отбора образцов для исследования СЗМ.

Таким образом, установка Semilab AFM-2000 является оптимальным решением для промышленного применения в целях поддержания качества и проведения исследований и разработок.

Высокая производительность:

• Самый низкий уровень шума
• Высокоточный каскад, высокоточные двигатели и оптическая опорная система обратной связи
• Акустический корпус
• Система камер для визуализации области сканирования.

Простота использования:

• Замена кантилевера
• Полная автоматизация благодаря встроенной активной виброизоляции

Гибкость:

• Автоматическая замена наконечника
• Размер образца до 300 мм

Универсальность:

• Обеспечивает гибкость настройки сканера с АСМ-наконечником для широкого диапазона сканирования.
• Модификации по желанию заказчика
• Комбинация с другими аналитическими головками