Используется для полностью автоматического оптического контроля внешнего вида полупроводниковых микрочипов и обнаружения шести дефектов поверхности микросхемных изделий, включая царапины, дефекты и углубления.
Технические характеристики
- Высокая степень интеграции, позволяет в полной мере использовать ограниченное пространство конструкции для интеграции 6 манипуляторов;
- Обширное накопление оптических проектов и эффективные программные алгоритмы;
- Заменяет оптический контрольный модуль, который может быть адаптирован к различным размерам изделия;
- Автоматическое оптическое обнаружение и скорость распознавания 0,015 мм/пиксель;
- Время обнаружения 120 мс.
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Оборудование для тестирования внешнего вида чипа AOI |
По запросу |
JoomShopping Download & Support