Оборудование для измерения положения микросхем серии iFM


Производитель: Китай (16)

0 USD

Технические характеристики

Продукты серии iFM представляют собой оборудование для измерения положения чипа. Продукты позволяют осуществлять высокоточное измерение информации о положении образца рисунка и могут использоваться для измерения положения пластин, масок и т. д.

Технические параметры

Модель устройства

iFM3000

iFM5000

Размер подложки

330мм*330мм

515мм*510мм

Точность измерения

±100 нм

±100 нм

 

Модель

Стоимость, доллары США

Оборудование для измерения положения микросхем серии iFM

По запросу

Copyright MAXXmarketing GmbH
JoomShopping Download & Support