Технические характеристики
- Область применения: обнаружение дефектов составных полупроводниковых пластин, таких как SiC, GaN и др.;
- Измеряемый размер чипа: 4,6,8 дюймов.
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Mars 4410, Mars 4420 |
По запросу |
JoomShopping Download & Support