Серия HFTAP

Высокочастотный тест на датчике

Обзор продукта

Продукт HFTAP K32, лидирующий в своей отрасли, дополняет серию высокочастотных тестовых плат FormFactor, включая K10, K16 и K22, которые используются для тестирования устройств DRAM с тактовой частотой 1,0 ГГц, 1,6 ГГц и 2,2 ГГц. Передовая технология печатных плат, доступная только у FormFactor, обеспечивает самую быструю связь между тестируемым устройством (DUT) и автоматизированным испытательным оборудованием (ATE). Благодаря матричной архитектуре FormFactor карты-зонды HFTAP K32 могут тестировать на скоростях, которых не может достичь ни один другой контактный прибор для всей пластины.

Расширенные возможности архитектуры пробной карты HFTAP K32 от FormFactor позволяют клиентам DRAM тестировать скорость на уровне пластины до 3,2 ГГц/6,4 Гбит/с для памяти следующего поколения с известными исправными кристаллами (KGD). Недавнее повсеместное внедрение гетерогенных интегрированных систем, основанных на передовых технологиях 2,5D и 3D-упаковки, стимулирует спрос на KGD. Преимущество тестирования KGD заключается в том, что конечный собранный модуль не будет утилизирован из-за одного неисправного кристалла.

Эта усовершенствованная архитектура MEMS-карт-пробоотборников используется для проверки электрических характеристик и выхода годных изделий не только для отдельных микросхем, но и для устройств, используемых в стеке HBM, включая межслойные пластины с малым шагом для обеспечения производительности всего устройства. Решение HFTAP K32 в виде карт-пробоотборников позволяет клиентам получать больше информации на любом этапе процесса гетерогенной интеграции для усовершенствованных устройств, где традиционный способ оптимизации выхода годных изделий на монолитном кремниевом кристалле уже не подходит. Решения в виде карт-пробоотборников HFTAP доступны на более низких скоростях в зависимости от требований к устройству.

Основные характеристики

• K32 (до 3,2 ГГц/6,4 Гбит/с) высокоскоростной тест на уровне пластины
• Поддерживает расширенные требования к упаковке для тестирования на высокой скорости
• Позволяет тестировать память последнего поколения, включая LPDDR4X, DDR5, LPDDR5, HBM3, GDDR5 и GDDR6
• Работает в широком диапазоне температур (от -40°C до +125°C)
• Используется проверенная в производстве платформа SmartMatrix™ с размером печатной платы 440 мм/520 мм
• Масштабируемая технология 3D MEMS MicroSpring™ обеспечивает гибкую компоновку площадок с превосходными контактными характеристиками и продлевает срок службы карт-картриджей
• Превосходная пропускная способность по току
• Возможность точного шага до 50 мкм
• Возможность зондирования на очень маленьких подушечках