Микроскоп для обработки пластин

Пластинчатый микроскоп

Модель

AWL046

AWL068

Размер пластины (спецификация SEMI)

150 мм/125 мм/100 мм

200 мм/150 мм

Минимальная толщина пластины

150 мкм

180 мкм

Тип коробки

Открытая кассета (SEMI Stad.25 "26"-слот

Количество коробок с пленкой

1горшок

Проверьте настройки режима

Полная проверка/проверка нечетных чисел/проверка четных чисел

Сканирование пластин в кассете

●

●

Предпозиционирование пластин

●

●

Позиционирование пластины

Бесконтактная плоскость позиционирования N-образный паз, опоры 0°, 90°, 180°, 270°, установка вперед

Проверьте функцию

микроскопическое исследование

●

●

Макрососмотр пластины

●

●

Макрососмотр пластины 1

●

●

Макрососмотр пластины 2

●

●

Адаптирован к микроскопу

Металлографический микроскоп SOPTOP MX68R

Этап

·         6-дюймовая четырехслойная механическая подвижная платформа, ручная коаксиальная регулировка в направлении XY

·         Удерживающий стол для пластин, вращение на 360°

·         Диапазон наблюдения 228 мм (направление X) × 170 мм (направление Y);

·          Благодаря рукоятке сцепления его можно использовать для быстрого перемещения во всем диапазоне хода.

·         8-дюймовая четырехслойная механическая подвижная платформа, ручная коаксиальная регулировка в направлении XY

·         Удерживающий стол для пластин, вращение на 360°

·          Диапазон наблюдения 228 мм (направление X) × 280 мм (направление Y);

·          Благодаря рукоятке сцепления его можно использовать для быстрого перемещения во всем диапазоне хода.

Источник питания

1П/220В/16А

Модель

Стоимость, доллары США

Микроскоп для обработки пластин

Цена по запросу.