Система измерения малой емкости (Cj) (Серия T12X)

Технические характеристики

Система предназначена для измерения паразитной емкости полупроводниковых приборов, таких как TVS-диоды, MEMS-датчики и высокоскоростные оптопары. Метод измерения основан на подаче высокочастотного переменного сигнала на тестируемое устройство, с последующей оцифровкой проходящих через него напряжения и тока для вычисления значения малой емкости.

Современные тенденции к увеличению скорости связи привели к тому, что скорость работы электронных устройств достигла гигагерцового диапазона. Это предъявляет более строгие требования к паразитной емкости полупроводниковых компонентов в сигнальных цепях. Серия T12X позволяет количественно оценить данный параметр, обеспечивая эффективный контроль качества.

Особенности продукта:

• Система подходит для массового производственного тестирования (FT и CP).
• Совместима с высокоскоростными сортировщиками для проведения высокоскоростных измерений.
• Функция программной фильтрации: Специальные алгоритмы подавляют шумы на частотах, не используемых при измерении, что позволяет достичь высокой точности.
• Опция DC-тестирования: Проведение стандартных DC-измерений для двухвыводных компонентов с напряжением смещения до ±30 В. Реализовано на независимом измерительном канале, отдельном от AC-тестирования.
• Используется стандартная методика измерения емкости с высокой скоростью и разрешением АЦП (16 бит), что обеспечивает точное измерение чрезвычайно малых значений емкости.
• Система может использоваться для анализа продукции; частоту и амплитуду тестового сигнала пользователь может задавать самостоятельно.
• Компактный дизайн системы позволяет напрямую оснащать ее специализированной LB-платой (Load Board), что улучшает обработку ВЧ-сигналов и упрощает компоновку оборудования на производственной линии.
• Система может быть интегрирована с установкой для DC-тестирования для комбинированного тестирования диодов (в конфигурации с 2 измерительными площадками).

Технические параметры