Широко используется в линиях производства полупроводниковых элементов, таких как плоские дисплеи, и используется для определения распределения материалов в кассете (со стеклянной подложкой или без нее).
Технические характеристики
- Минимальная толщина применяемой стеклянной подложки или тонкопленочной подложки может достигать 0,1 мм
- Под влиянием множества факторов, таких как толщина, цвет, прозрачность, поверхностное покрытие и деформация измеряемого объекта, обнаружение остается точным
- Была реализована сериализация продукции, начиная с линейки 5,5-го поколения и заканчивая линейкой 11-го поколения, от линии по производству жидких кристаллов до линии по производству OLED
- Инфракрасная фотоэлектрическая технология обнаружения
- Алгоритм обнаружения прозрачной ультратонкой стеклянной подложки
- Сброс субстрата, обнаружение инородных тел и технология сигнализации
- Алгоритм инициализации интенсивности света для адаптации к окружающей среде
- Технология интерфейса коммуникационной шины
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Матричный датчик на подложке "Луч-к-лучу" |
По запросу |
JoomShopping Download & Support