Датчик толщины отражающей пленки SR-C

Общий обзор

SR-C компактный высокоточный толщиномер отражающей пленки, использующий принцип оптической интерференции, быстро и точно измеряет толщину пленки, оптическую постоянную и другую информацию путем анализа отраженного света на поверхности пленки и отраженного света на границе раздела между пленкой и подложкой.

• Решения для измерения оптических пленок
• Бесконтактное, неразрушающее измерение
• Основной алгоритм поддерживает анализ тонких и толстых пленок, однослойных и многослойных пленок.
• Толщина пленки, точность измерения: 0,02 нм
• Гибкая настройка и поддержка индивидуальных настроек

Характеристики

• Используйте высокоинтенсивный галогенный источник света, спектр которого охватывает диапазон от глубокого ультрафиолета до ближнего инфракрасного излучения http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/202206/21112308olwp.png
• Использует высокоинтегрированную оптическую и электромеханическую конструкцию, которая отличается небольшими размерами и простотой в эксплуатации. http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/201809/19221513r4et.png
• Основанный на принципе корреляции между отраженным светом на верхней и нижней границах раздела тонкопленочного слоя, он может легко анализировать однослойные пленки до многослойных; http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/202112/18153049go27.png
• Настройка мощных алгоритмов основного анализа: БПФ-анализ толстой пленки, метод подгонки кривой для анализа информации о физических параметрах пленки; http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/201809/19221734fzm5.png

Применение

Толщиномеры отражающей пленки широко используются при измерении пленки различных сред, защитных пленок, органических пленок, неорганических пленок, металлических пленок, покрытий и т.д. http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/202112/18152158jhm6.png

Технические параметры