Датчик интерференции белого света Supervisor WX 100

Основные характеристики

Портативный, может быть оснащен пакетным анализом в один клик

Подробная информация

Интерференционный зонд SuperView WX 100 white light interference probe - это бесконтактный прецизионный оптический зонд, разработанный на основе интерференции белого света и прецизионного сканирования. Он в основном состоит из системы оптических помех и системы сканирования в Z-направлении. Он обладает характеристиками небольшого размера, легкого веса и портативности. Он может может быть легко установлен на различных платформах с архитектурой горизонтального перемещения XY. Автоматическое измерение поверхности устройства выполняется на производственной линии, и непосредственно получаются 2D/3D параметры, такие как шероховатость и размер контура, связанные с качеством поверхности.

Функция продукта

1. Функция измерения: он может осуществлять высокоточное сканирование поверхности образца в направлении Z и получать 3D-изображения.；

2. Функция анализа: он может получать 2D и 3D данные о качестве шероховатости поверхности, размере контура на микро-наноуровне и т.д.；

3. Функция программирования: поддерживайте предварительно настроенные шаги инструмента обработки и анализа данных и завершайте весь процесс от измерения до анализа одним щелчком мыши.；

4. Пакетный анализ: Шаблоны обработки данных и анализа могут быть настроены в соответствии с требуемыми параметрами, и пакетный анализ одним щелчком мыши может быть реализован для одного и того же типа данных параметров.；

Область применения

Измеряйте и анализируйте морфологические характеристики поверхности, такие как шероховатость, рябь, контуры поверхности, дефекты поверхности, условия износа, коррозии, зазоры пор, высоту ступеней и условия обработки различных изделий, компонентов и материалов.

Пример применения

Эксплуатационные характеристики

1. Он портативен и может быть оснащен уникальной консольной конструкцией, которую можно легко монтировать на различные платформы горизонтального перемещения портальной архитектуры. Благодаря подключению программного интерфейса он может формировать сверхвысокоточный оптический 3D-профилировщик поверхности, который может быть автоматически измерен.；
2. Алгоритм комбинированного сканирования - это расширенный алгоритм реконструкции сканирования с фазовым сдвигом, который сочетает в себе двойные преимущества высокой точности метода фазового сдвига PSI и широкого диапазона вертикального метода VSI. Он может быть адаптирован ко всем типам образцов от ультрагладких до шероховатых, плавных дуг и т.д., сканирование в один клик, нет необходимости переключать алгоритмы；
3. Функция защиты от столкновений, датчик защиты от столкновений в направлении Z, когда линза касается поверхности образца, она переходит в состояние аварийной остановки и больше не перемещается вниз.；