Состав системы
Эта приборная система состоит из постоянного магнита, высокоточного источника постоянного тока, высокоточного вольтметра, держателя образца с эффектом Холла, стандартного образца, высокоточного измерителя Гаусса и системного программного обеспечения. Эффектор DX-320, специально разработанный для этой приборной системы, объединяет в единое целое источник постоянного тока, микровольтметр с шестью с половиной разрядами и сложное переключающее реле для измерения Холла, что значительно упрощает подключение и проведение эксперимента. DX-320 можно использовать как источник постоянного тока, так и отдельно в качестве микровольтметра. Он используется для измерения важных параметров, таких как концентрация носителей заряда, подвижность, удельное сопротивление и коэффициент Холла полупроводниковых материалов. Эти параметры необходимо контролировать заранее, чтобы понять электрические характеристики полупроводниковых материалов. Следовательно, тестовая система на эффекте Холла предназначена для понимания и изучения полупроводниковых приборов. И необходимый инструмент для определения электрических свойств полупроводниковых материалов. Результаты эксперимента автоматически рассчитываются программным обеспечением, и одновременно могут быть получены концентрация сыпучего материала, концентрация листового материала, подвижность, удельное сопротивление, коэффициент Холла (Hall). Коэффициент), магнитосопротивление (Magnetoresistance) и так далее.
|
Физические параметры |
Плотность носителя |
103см-3 ~ 1023см-3 |
|
|
Мобильность |
0,1 см2/вольт * сек ~108см2/вольт *сек |
||
|
Удельное сопротивление |
10-7 Ом * см~1012 Ом * см |
||
|
Напряжение Холла |
1uV ~ 3V |
||
|
Индекс холла |
10-3 ~ 106см3/C |
||
|
Тип проверяемого материала |
полупроводники |
Материалы SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe, феррит и др. |
|
|
Материал с низким импедансом |
Графен, металл, прозрачный оксид, Слабомагнитные полупроводниковые материалы, материалы TMR и т.д. |
||
|
Высокоимпедансный материал |
Полуизолирующие GaAs, GaN, CdTe и др. |
||
|
Проводящие частицы материала |
Испытания материалов P-типа и N-типа |
||
|
Среда магнитного поля |
Тип магнита |
Постоянные магниты серии ЯМР ядерного магнитного резонанса |
|
|
Размер магнитного поля |
500mT (Расстояние между полюсами: 18 мм) |
||
|
Дополнительная магнитная среда |
Постоянные магниты с соответствующими размерами магнитов могут быть настроены в соответствии с потребностями заказчика |
||
|
Электрические параметры |
Аккумулятор |
50,00 нА-50,00 мА |
|
|
Разрешение источника тока |
0,0001 мкА |
||
|
Измерение напряжения |
0~±3 В |
||
|
Разрешение для измерения напряжения |
0,0001 мВ |
||
|
Температурная среда |
Комнатная температура |
||
|
Другие аксессуары |
Затенение |
Для повышения стабильности испытуемого материала установите внешние затеняющие детали |
|
|
Размер образца |
Максимум 30 мм * 30 мм |
||
|
Испытательный образец |
Обеспечивает эффект Холла от Института полупроводников Китайской академии наук Стандартные испытательные образцы и данные: 1 комплект (Кремний, германий, арсенид галлия, антимонид индия) |
||
|
Создание омических контактов |
Электрический паяльник, лист индия, припой, эмалированная проволока и т.д. |
||
|
Модель |
Стоимость, доллары США |
|
Испытательная система на эффекте Холла с постоянными магнитами DX-30 |
По запросу |
JoomShopping Download & Support