Специальный спектральный эллипсометр

SE-VE - это экономичный и быстрый эллипсометр спектра измерений, компактный и интегрированный в конструкцию, простой в эксплуатации, с быстрым измерением в один клик и интерактивным человеко-машинным интерфейсом мастера, с богатой базой данных материалов, библиотекой алгоритмических моделей и мощными возможностями анализа данных.

Общий обзор

SE-VE- это ультраэкономичный, быстродействующий спектральный эллипсометр с компактной интегрированной конструкцией и простой в использовании. Он может быстро измерять и характеризовать толщину пленки и оптическую постоянную различных оптических пленок с помощью одной клавиши.

• Сверхэкономичное решение для измерения оптических эллипсоидов；
• Компактная и интегрированная конструкция, обеспечивающая максимальное удобство эксплуатации;
• Быстрое измерение и анализ в один клик, дизайн взаимодействия человека и компьютера, простота в использовании;
• Богатая база данных и библиотека моделей геометрических структур для обеспечения широких возможностей анализа данных

Характеристики

• Используется высокопроизводительный импортный композитный источник света, спектр которого охватывает видимый ближний инфракрасный диапазон (400-800 нм); http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/201810/15090929suby.png
• Высокоточная модуляция вращающегося компенсатора и конфигурация PCRSA для достижения высокоскоростной регистрации спектральных данных Psi/Delta; http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/202004/21142826umwz.JPG
• Сотни баз данных материалов и множество библиотек алгоритмических моделей охватывают большинство современных фотоэлектрических материалов.； http://www.eoptics.com.cn/u/cms/ygkj/201809/172232204h0l.png

Применение

Спектральный эллипсометр SE-VE широко используется в научных исследованиях / на предприятиях для быстрой характеристики и анализа толщины пленки и оптической постоянной различных однослойных и многослойных пленок.

Технические параметры